研究業績(論文・解説等)

基本情報

氏名(漢字) 稲葉 稔
氏名(カナ) イナバ ミノル
氏名(ローマ字) INABA Minoru

DOI

 

ISSN国際標準逐次刊行物番号

 

論文名

In Situ Scanning Probe Microscopy of Interfacial Phenomena in Batteries

著者名

稲葉 稔

掲載誌名

Interface

20

3

55-59

媒体区分

 

発行年

2011

共著者氏名

Soon-Ki Jeong, Zempachi Ogumi

単著・共著区分

共著